国际光纤微弯损耗测试标准2011年有望出台

栏目 :公司动态发布时间 : 2015-08-31

近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上，帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露，帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法和标准的立项工作，有望在2011年出台初步的测试标准。在近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上，帝斯

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